CGD, 2D 바코드를 GaN 칩 상에 통합

[더테크=조명의 기자] GaN 기반 전력 디바이스 제품군을 개발하는 팹리스, 청정 반도체 기술 기업 CGD(Cambridge GaN Devices)는 최근 웨이퍼 상의 IC 제조 위치를 식별할 수 있도록 상용 코드 리더기로 판독할 수 있는 2D 바코드를 업계 최초로 각 GaN 칩 상에 통합했다고 발표했다. 이를 통해 CGD는 패키징된 디바이스를 스캔해 회로와 배치를 식별하는 것은 물론, 개별 다이가 만들어진 웨이퍼의 위치를 정확하게 파악할 수 있게 됐다. 이는 프로세스의 견고성과 신뢰성에 관한 중요 데이터를 제공할 수 있는 의미 있는 성과라는 평가다. 자히드 안사리 CGD 부사장은 “우리는 프로세스에 대한 완벽한 소유권을 확보하고 신뢰성 문제를 해결하기 위해 패키징 팀과 협력해 각각의 2D 바코드를 통합할 수 있도록 설계했다”며 “예를 들어 웨이퍼 가장자리가 수율이 가장 낮다는 사실 외에도 웨이퍼 위치에 따라 디바이스 성능에 어떠한 영향을 미치는지 파악할 수 있게 됐으며, 이러한 정보는 파운드리에 피드백되어 지속적으로 제조 프로세스를 개선할 수 있다”라고 설명했다. 이어 “저렴한 상용 바코드 리더기를 사용해 디바이스를 즉시 식별할 수 있게 됨으로써 위조방지

• 조명의 기자
• 2023-10-26 16:01